BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平，是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg，有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。
上海良平JA/MP系列电子精密天平
流畅新颖的外形设计，体现了对现代理念的追求。新一代电磁式称量传感器，使产品的进度有了可靠的保障。具有全自动故障检测，自动校准，超载保护等多种应用程序。 设有计件、百分比、单位转换等功能，操作简便、可靠。
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可读性 0.1mg大称量值 110g重复性(s) 0.1mg线性 ±0.2mg外部校准砝码(选件) 100g秤盘尺寸(mm) Φ90
